Kietų medžiagų cheminė mikroanalizė skenuojančiu elektroniniu mikroskopu su EDS/EDX priedėliu
Sukurta: 26 lapkričio 2018
- Padalinys: Fizikos fakultetas
- Raktažodžiai: Kietų medžiagų cheminė sudėtis, skenuojantis elektroninis mikroskopas, SEM, EDX, EDS, CamScan, Apollo 300, optoelektronika, chemija, maisto pramonė, metalo pramonė, tekstilės pramonė
Skenuojančio elektroninio mikroskopo (CamScan Apollo 300) EDX/EDS priedėlis skirtas lokalios cheminės sudėties nustatymui kietose medžiagose ir cheminių elementų erdvinio pasiskirstymo tiriamo objekto paviršiuje žemėlapių sudarymui.
Panaudojimo galimybės. Optoelektronikos, chemijos, maisto, metalo ir metalo gaminių, tekstilės pramonei. Galimybė nustatyti cheminę kietų medžiagų cheminę sudėtį, kai cheminių elementų tiriamoje medžiagoje yra ne mažiau nei 2 procentai.