Lazerio indukuoto pažeidimo slenksčio matavimo stotis Nr.2

Padalinys: Fizikos fakultetas

Raktažodžiai: Lazerio indukuoto pažeidimo slenksčio matavimas, LIDT, Ophir, Spiricon, Hameg, Tektronix, optinių dangų charakterizavimas, lazerinės spinduliuotės parametrų matavimas

Atsakingas žmogus: Dr. Andrius Melninkaitis, tel. +370 5 236 6067

Matavimo stotis skirta optinių dangų charakterizavimui.

Skirta nuo 1 Hz iki 10 kHz lazerio impulsų pasikartojimo dažniui; galima atlikti matavimus šiems bangos ilgiams: 760 - 840 nm, 380 - 420 nm. Automatinis bandinio pozicionavimas galimas x ir y plokštumose (diapazonas ≥70 mm). Išsklaidytos ir krintančios spinduliuotės registravimui sistemoje instaliuotas keitiklis su išrinkimo ir palaikymo funkcijomis, optimizuotas trumpų impulsų registravimui. Integruotas kompiuteris su reikiama programine įranga.
Taip pat kartu naudojamas lazerinės spinduliuotės energinių, erdvinių ir laikinių parametrų matavimo įrangos komplektas: Ophir universalūs matuokliai ir termoporinis detektorius, Spiricon 190-1100 nm spektrinio diapazono CCD kamera, Hameg Instruments 200 MHz dažnių juostos analoginis oscilografas HM2005 ir Tektronix 300 MHz dažnio juostos skaitmeninis oscilografas TDS3032C, fotodiodai.