Impulsinis X-dažnio juostos EPR spektrometras Bruker Elexsys E580

Padalinys: Fizikos fakultetas

Raktažodžiai: Elektronų sukiniai, EPR, spektrinė analizė, defektai, priemaišos, laisvieji radikalai, kristaliniai dariniai, organiniai dariniai, Bruker, Elexsys E580

Atsakingas žmogus: Dr. Eugenijus Gaubas, tel. +37060034126,

EPR spektrometras Bruker Elexsys E580 veikia X-juostos (~10GHz) mikrobangų (MB) ruože nuolatinio ir impulsinio zondavimo režimais.

Pagrindiniai spektrometro komponentai yra mikrobangų rezonatorius, į kurį patalpinamas bandinys, mikrobangų tiltas, elektromagnetas, maitinimo šaltinis magnetui, elektroninis blokas, kuriame sumontuotas ir oscilografas, bei kompiuteris duomenims registruoti bei analizuoti. Rezonatoriai gali būti patalpinami į specialius kriostatus, ir, naudojant skystą azotą arba skystą helį, matavimai gali būti atliekami žemose temperatūrose. Taip pat, naudojant kaitinimo elementus, matavimai gali būti atliekami aukštesnėse temperatūrose. Temperatūra valdoma ir stabilizuojama kompiuteriu.Vienas bandinys vieno matavimo metu. Maksimalus magnetinis laukas 1,5 T, matavimai temperatūros intervale nuo 4 K iki 300 K, mikrobangų galia - 150 mW.

Panaudojimo galimybės. Nesuporuotų elektronų sukinių (EPR) spektrinė analizė defektų, priemaišų, laisvųjų radikalų identifikavimui kristaliniuose ir organiniuose dariniuose. Elektronų sukinių (EPR) spektrinė analizė defektų, priemaišų, laisvųjų radikalų identifikavimui kristaliniuose ir organiniuose dariniuose temperatūroje nuo 4K iki 300K.