Eksitonų difuzijos koeficiento ir nuotolio nustatymas amorfiniuose sluoksniuose
- Padalinys: Fizikos fakultetas
- Raktažodžiai: Eksitonų difuzija, nuotolis, amorfiniai sluoksniai, kinetikai, fluorescencija, organinė elektronika, OLED, saulės celės, jutikliai
Eksitonų difuzijos koeficiento ir nuotolio nustatymas remiasi amorfinių medžiagų sluoksnių sužadintosios būsenos kinetikų matavimais įvedant žinomos koncentracijos fluorescencijos gesiklius (PCBM – fulereno darinius) ir šių kinetikų teoriniu modeliavimu taikant Monte Karlo metodą trimatei eksitonų difuzijai aprašyti.
Vienu metu galima matuoti vieną bandinį.
Tiriamos medžiagos turi būti amorfinės ir formuoti molekulinis stiklus, spinduliuoti spektrinėje srityje nuo 196 nm iki 957 nm, efektyviai sugerti ties vienu iš bangos ilgių: 280 nm, 330 nm, 375 nm ar 450 nm, gerai tirpti organiniuose tirpikliuose. Bandiniai ruošiami N2 atmosferoje.
Panaudojimo galimybės. Nustatytas eksitonų difuzijos koeficientas ir nuotolis organinių junginių amorfiniuose sluoksniuose, leis įvertinti jų panaudojimo galimybes moderniuose organinės elektronikos prietaisuose (organiniuose šviestukuose, organinėse saulės celėse, jutikliuose).